SDK 是怎么监控 Electron 的内存泄漏和长期运行健康度的？

@arms/rum-electron 设计了“高频后台采样 + 低频窗口聚合 + 事件触发兜底”方案：每 10 秒同步采样一次 app.getAppMetrics() 累加到内存累加器，CPU 开销 < 0.1%；每 30 分钟输出 memory_max（峰值）和 memory_avg（均值）两条事件，每小时约 5 条；崩溃或退出时立即 flush 当前内存现场，让 OOM 分析有据可查；跨窗口均值轨迹用于追踪 baseline 漂移，及早发现内存泄漏趋势。这套方案以极低开销提供了足够细粒度的内存画像，适合 IDE、设计工具、AI 助手等长生命周期应用。